本公司由数位曾在广州半导体材料研究所获得半导体测试仪多项成果奖的高级工程师主持产品开发，他们已完成过的研制项目有：
硅产品寿命测试仪
数字电阻率测试仪
硅外延层击穿电压测试仪
精密四探针头（专利）
功能材料微区特性测试仪等